新型CONTURA 新型CONTURA-扫描测量机 长度测量误差E0:自1.5 + L/350 μm起 CONTURA——来自蔡司的灵活、可靠和的品质保证测量平台。 新一代测量机更高,... ...
长度测量误差E0:自1.5 + L/350 μm起 CONTURA——来自蔡司的灵活、可靠和的品质保证测量平台。 新一代测量机更高,可兼容多种光学式探头,从而实现更广的测量范围... ...
O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身,因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备,O-INSPECT一机即可胜任。 ...
测量范围(in mm) 900 x 1200 x 800 900 x 1600 x 800 1200 x 1800 x 1000 1200 x 2400 x 1000 1200 x 3000 x 1000 可配置的传感器 RDS Sensor Carrier ViSCAN LineScan ... ...